雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線被測介質(zhì)表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度******，發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔很?。{秒量級）很難確認。CDRD50系列雷達物位計采用一種特殊的相關(guān)解調(diào)技術(shù)，可以準確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間隔，從而進一步計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。 

特  點 
由于采用了xj****的微波處理器和******的EchoDiscovery回波處理技術(shù)，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。 
“虛假回波學習”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結(jié)果。 
多種過程連接方式及天線型式，使得CDRD50系列雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)的測量等。 
采用脈沖工作方式，雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。

• 應用: 存儲容器或過程容器,復雜過程條件

  ***大量程：70m

  測量精度：±20mm

  過程連接：法蘭316L

  天線材料：不銹鋼316L/PTFE

  過程溫度：-40～200℃

  過程壓力：-1.0～40bar

  頻率范圍：6GHz

  信號輸出：兩線制/四線制4～20mA /HART